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新着情報PICK UP: 2012年高空間分解能表面電位計 EFMが半導体産業新聞に掲載されました
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高空間分解能表面電位計 EFMが半導体産業新聞に掲載されました

2012.03.14

3/14(水曜) の半導体産業新聞にて、弊社のハイエンド表面電位計である

Model 1100TN 静電気力顕微鏡が記事として掲載されました。

 

高空間分解能・広範囲・高精度測定を両立した弊社のハイエンド表面電位計です。

ご興味頂いた方は是非弊社までお問い合わせ下さい。

 

製品紹介ページはこちら

http://www.trekj.com/products/evs/1100tn.html